- 半导体测试分选设备
本设备是一台用于IC终端测试(FT)阶段的高效分选机，采用JEDEC Tray供料方式，矩阵式吸嘴支持64个吸嘴独立控制，配有无氮可编程三温调节系统 ，实现温度精准控制，可搭载不同的测试刺激室 ，为MEMS传感器及Memory/MCU等产品测试校准提供精准刺激 ，设备已实现规模化量产测试，具备高性能 、高稳定性和高效率的优势 。
- 应用领域
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MEMS压力传感器
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MEMS温度传感器
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MEMS陀螺仪/加速度传感器
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存储半导体
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功率半导体
- 相关产品
MEMS传感器测试分选机
MEMS传感器测试分选机
MEMS传感器测试分选机
功能
- 自动上下料 ；
- 视觉系统检查Tray盘是否有物料及进行产品表面二维码扫码；
- 压力测试；
- 高/低温测试 ；
- 自动区分NG/PASS产品。
特点
- 高效率，30,000+ UPH
- 高灵活性，兼容多种刺激室
- 模块化设计 ，简单快速切换COK
- Tray in Tray out，可放置30+ JEDEC Tray，可兼容多种分Bin
- 视觉物料识别 ，姿态识别 ，二维码识别 ，字符识别
- 结构紧凑 ，占地面积：2500*1720*2380 mm
应用
MEMS温度传感器 ， MEMS压力传感器 ， MEMS陀螺仪/加速度传感器， 存储半导体， 功率半导体
